JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀是一款針對(duì)薄膜測(cè)試的專(zhuān)用設(shè)備，測(cè)試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過(guò)軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測(cè)量與分析，可測(cè)試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算獲得反

PV520A-S超聲元件阻抗分析儀是由清華大學(xué)自動(dòng)化系和中國(guó)科學(xué)院聲學(xué)所共同研制開(kāi)發(fā)的。測(cè)試如下以及十多個(gè)參數(shù)：諧振頻率 Fs 、大電導(dǎo) Gmax 、帶F2-F1 、反諧振頻率 Fp 、品質(zhì)因數(shù) Qm 、自由電容 CT 、動(dòng)態(tài)電阻 R1 、動(dòng)態(tài)電感L1 、動(dòng)態(tài)電容 C1 、靜態(tài)電容 C0 、有效機(jī)電耦合系數(shù) Keff 。用于壓電超聲器件和設(shè)備的檢測(cè)綜合性解決方案.也是目前高校和生產(chǎn)單位的重要檢測(cè)儀

TSDC-100型高低溫?zé)岽碳る娏鳒y(cè)量?jī)x,熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系(thermally stimulated depolar-ization currents,簡(jiǎn)寫(xiě)為T(mén)SDC或TSC)是電介質(zhì)材料在受熱過(guò)程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個(gè)直流的極化電壓，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子

JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀是一款針對(duì)薄膜測(cè)試的專(zhuān)用設(shè)備，測(cè)試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過(guò)軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測(cè)量與分析，可測(cè)試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時(shí)計(jì)算