電卡效應(yīng)測試儀 ECM$n(ElectroCaloric Measurement)$n$n本系統(tǒng)除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。$n$n電卡測試性能參數(shù)：$n溫度范圍: -50℃到200℃$n溫度靈敏度: 20mK

SWXWY-600型*材料高低溫三維顯微應(yīng)變測量系統(tǒng)系統(tǒng)——光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級精度測量需求。SWXWY-600型*材料三維顯微應(yīng)變測量系統(tǒng)系統(tǒng)彌補(bǔ)了傳統(tǒng)設(shè)備無法進(jìn)行微小物體變形測量的不足，成為微觀尺度領(lǐng)域變形應(yīng)變測量的一個有力工具。該設(shè)備對于*材料各種參數(shù)的測量，如：楊氏模量、泊松比、彈塑性，微觀應(yīng)變等，對于材料的研究有著重要作用。

應(yīng)用領(lǐng)域主要有： Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多鐵隧道結(jié) Electro-Chemical Metallization Memory (ECM) 電化反應(yīng)存儲器 Magnetoresistive Tunnel-Junctions (MTJ) 磁阻隧道結(jié) Electronic Effect Memory (EE

aixPES壓電材料綜合表征系統(tǒng) 本系統(tǒng)主要用于壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。 大信號和小信號材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測量是通過精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵信號。樣品的微位移同時通過激光干涉儀進(jìn)行測量。

本設(shè)備主要用來研究電介質(zhì)材料的自漏電性。 由于測試條件非常接近實際情況，因此通過這種方式可容易地測試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。 技術(shù)說明：

TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。