DPT-LCR1000高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、阻抗譜、頻譜掃描的測(cè)試。系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試箱、高溫測(cè)試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無(wú)縫連接，測(cè)量在不同溫度、不同測(cè)試頻率下電容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、損耗(D)等參數(shù)，通過(guò)計(jì)算獲得復(fù)介電常數(shù)、電模量等參數(shù)，直接得出材料的介電溫譜、頻譜、阻抗譜、電模量、Cole-Cole等圖譜，一次測(cè)量，同時(shí)輸出，測(cè)量效率高。

HLDT-400型高低溫介電溫譜測(cè)試儀適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、阻抗譜、頻譜掃描的測(cè)試。系統(tǒng)軟件將高低溫測(cè)試箱、高低溫測(cè)試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無(wú)縫連接，測(cè)量在不同溫度、不同測(cè)試頻率下電容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、損耗(D)等參數(shù)，通過(guò)計(jì)算獲得復(fù)介電常數(shù)、電模量等參數(shù)，直接得出材料的介電溫譜、頻譜、阻抗譜、電模量、Cole-Cole等圖譜，一次測(cè)量，同時(shí)輸出，測(cè)量效率高，數(shù)據(jù)

HTIM-1000高溫絕緣電阻測(cè)試儀 儀器簡(jiǎn)介： 高溫絕緣電阻測(cè)試儀器運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。利用三電極測(cè)試系統(tǒng)，重復(fù)性與穩(wěn)定性好，提高了夾具的抗擾能力，同時(shí)大大提高準(zhǔn)確度也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)研究等用途。 高溫電阻率測(cè)試儀采用自主開(kāi)發(fā)電子保護(hù)系統(tǒng)，提高了設(shè)備的an全性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用的SPWM電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以

HTIM-1600超高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路，能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量?？蓪?shí)現(xiàn)絕緣材料

TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀是一款多用途的電阻測(cè)試儀，即可應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測(cè)量，也可以應(yīng)用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測(cè)量，是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器，對(duì)于先進(jìn)材料應(yīng)用和開(kāi)發(fā)有著重要意義。

HTIM-1001A高溫電阻測(cè)試儀采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料，液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。