描述：高溫介電溫譜測試儀主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

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GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時測試4個樣品）介紹：

關(guān)鍵詞：高溫介電溫譜測試儀、高溫介電性能測量系統(tǒng)、高溫介溫譜能系統(tǒng)。

高溫介電溫譜測試儀

產(chǎn)品介紹：

GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好

2.四通道測試，可以同時測試1-4個樣品，方便快捷

3.數(shù)據(jù)分析軟件：提供多種掃描曲線，可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)

《符合ASTMD150和D2149-97標(biāo)準(zhǔn)>><<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法》

產(chǎn)品特點：

1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能

2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能

3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量；以實現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線，時間和電壓變化的曲線

4.可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求

高溫介電溫譜測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：

測量溫度：室溫-1000°C	升溫斜率：2°C/min
頻率范圍：20-30MHZ	精度：0.05%
測量精度：±0.1°C	控溫精度：±1°C（PID精準(zhǔn)控溫）
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好	測試方法：兩線法或四線法
測試通道數(shù)：1-4通道	一次可測樣品數(shù)：1-4個樣品
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸	測量精度：0.05%
AC電平：0V到1Vrms	直流偏壓：0到±40V/100mA
數(shù)據(jù)存儲：EXCEL表格等多種格式	加熱方式：電阻絲加熱
真空度范圍：100Pa-1大氣壓	電極材料：鉑金
數(shù)據(jù)傳輸：4個USB接口	儀器通訊：USB或GPIB

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